1. Beam injection assessment of defects in semiconductors
پدیدآورنده : / edited by M. Kittler...(et al)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors- Defects- Congresses,Semiconductors- Defects- Testing
رده :
QC10
.
J1I421
1998
2. ICMTS 93 : proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 22-25, 1993, Sitges, Barcelona, Spain
پدیدآورنده : sponsored by the IEEE Electron Devices Society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Testing - Congresses , Semiconductors - Testing - Congresses , Transistors - Testing - Congresses
رده :
TK
7874
.
I3233
1993
3. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
4. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: )lectured presented at the NATO advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, September 19-29, 1978
پدیدآورنده : edited by Jay N. Zemel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Semiconductors - Testing - Congresses
رده :
TK
7871
.
85
.
N376
1978
5. Spreading Resistance Symposium : proceedings of a symposium, held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg, Md., June 13-14, 1974
پدیدآورنده : James R. Ehrstein, editor
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Testing Congresses ، Semiconductors,Congresses ، Electric resistance, Spreading
رده :
QC
100
.
U57
1974
